愛德萬測試(Advantest Corp.)推出全新 T2000 8GWGD 測試設(shè)備，提供結(jié)合每秒采樣速率達8Gsps的波形產(chǎn)生器和8GHz數(shù)位器的模組，可應(yīng)用于 HDD 硬碟等巨量儲存裝置中的系統(tǒng)單晶片(SoC)測試。

　　愛德萬測試SoC事業(yè)資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示，面對一日千里的云端運算市場，客戶可透過愛德萬全新測試機臺駕馭云端運算數(shù)十億顆硬碟、全球無可計數(shù)的伺服器陣列?！?/p>

　　T2000 測試機臺提供8GWGD (8Gsps 波形產(chǎn)生器 / 8GHz數(shù)位器模組) 與8GDM (8Gbps 數(shù)位模組)，可處理儲存巨量資料的 SoC 內(nèi)部高速 SerDes 實體層 (PHY) 介面與復(fù)雜高速的類比波形挑戰(zhàn)。

　　這套新模組可透過任意波形產(chǎn)生器(AWG)產(chǎn)生 PRML (Partial Response Maximum Likelihood，最大回應(yīng)可能可能性) 波形等復(fù)雜訊號，及多種頻率的多頻波形，測試高速類比轉(zhuǎn)數(shù)位轉(zhuǎn)換器和類比前端設(shè)備 (包括前置放大器)。其獨特之處在于閘輸出可與 AWG 同步化，實現(xiàn)高精準(zhǔn)度計時。

　　此套新模組的訊號擷取數(shù)位器可提升系統(tǒng)產(chǎn)能、執(zhí)行高頻寬類比量測，同時也為視圖、上升/下降時間、時間傳播延遲量測、周期抖動(Cycle-to-Cycle Jitter)和累積性抖動(Long-Term Jitter) 提供測試解決方案。透過這些功能，客戶將能測試高速數(shù)位轉(zhuǎn)類比轉(zhuǎn)換器和前置放大器，及高速數(shù)位介面和鎖相回路 (PLL) 設(shè)備。